歐表測量絕緣電阻的意義
應(yīng)用兆歐表測量絕緣電阻的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡單,操作方便,但它采用的 電壓較低(最高為 2500 ~ 5000V),有些缺陷不易發(fā)現(xiàn)。泄漏電流試驗(yàn)的原 理與用兆歐表測絕緣電阻完全相同,不過泄漏電流試驗(yàn)中所用直流電源 是由高壓整流裝置供給,用微安表指示電流。它的特點(diǎn)是試驗(yàn)電壓高,并 可隨意調(diào)節(jié),對一定電壓等級的被試物施加相應(yīng)的試驗(yàn)電壓,可使絕緣本 身的弱點(diǎn)更易顯示出來,有效地發(fā)現(xiàn)絕緣電阻試驗(yàn)不易發(fā)現(xiàn)的問題。假 如電纜絕緣中有局部缺陷,但還沒有完全失去絕緣性能,由于施加高電 壓,能使絕緣強(qiáng)度低的局部產(chǎn)生較大的電導(dǎo)電流,或發(fā)生閃絡(luò),這時(shí)便可 從微安表反映出泄漏電流的增加。泄漏電流試驗(yàn)一般和直流耐壓試驗(yàn)同 時(shí)進(jìn)行。
電氣設(shè)備在運(yùn)行中可能遭到各種過電壓的危害,為保證設(shè)備的安全 運(yùn)行,必須對設(shè)備施加比工作電壓高得多的試驗(yàn)電壓進(jìn)行耐壓試驗(yàn),用以 考驗(yàn)絕緣的抗電強(qiáng)度。交流耐壓試驗(yàn)是絕緣耐壓試驗(yàn)中較簡便、使用較 廣泛的試驗(yàn)方法,但對電容量較大的電氣設(shè)備(如電力電容器、電力電纜 等),交流耐壓試驗(yàn)需很大容量的試驗(yàn)設(shè)備,給試驗(yàn)造成困難,為此采用直 流耐壓試驗(yàn)。 由于直流耐壓試驗(yàn)時(shí)絕緣內(nèi)部損耗極小,絕緣內(nèi)部的局部 放電不易擴(kuò)大,因此與交流耐壓相比,要求加長耐壓時(shí)間,一般為 5 ~ 10 分 鐘,試驗(yàn)電壓也相應(yīng)提高。直流電壓按電阻成比例分配,所以當(dāng)局部損傷
而降低絕緣電阻后,試驗(yàn)電壓將集中加至其余尚未損傷部分,增加了產(chǎn)生 電擊穿的機(jī)會,使局部絕緣缺陷更宜暴露。
泄漏電流試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷比測量絕緣電阻更有
效。這是因?yàn)槌嗽囼?yàn)電壓比較高以外,還可以觀測泄漏電流隨電壓上 升的變化過程,這對判斷絕緣是否良好很有好處。大量試驗(yàn)表明,泄漏電 流與外施電壓的關(guān)系曲線如圖 33 - 3 所示,曲線在一定范圍內(nèi)(0A 段)是 近似直線。當(dāng)電壓增加到 B 點(diǎn)以后,電流的增長要比電壓的增長快得多, 如圖中 BC 線段所示。到 C 點(diǎn)以后,如果電壓再增加,則電流急劇增加,以 至最后絕緣破壞而擊穿 。
在一般電氣絕緣試驗(yàn)中,測量泄漏電流所加的直流電壓大都在 A 點(diǎn) 以下,故對絕緣良好者,其伏安特性應(yīng)近于直線關(guān)系。當(dāng)絕緣局部或全部 有缺陷時(shí),泄漏電流將急劇增加,其伏安特性曲線就不再是直線了。有缺 陷的絕緣在不同電壓下,缺陷會有不同程度的發(fā)展。如圖 33 - 4 所示,絕 緣中有非貫穿性裂紋,裂紋 l 1 并未將兩極溝通,還保留一段比較良好的絕 緣 l2。在較低的電壓下,由于有一段良好絕緣 l2,泄漏電流仍可維持在一 個(gè)比較小的數(shù)值,所以用兆歐表測量絕緣電阻時(shí)難以發(fā)現(xiàn)。如將試驗(yàn)電 壓提高,由于 l 1 的電導(dǎo)較大,試驗(yàn)電壓幾乎全部加在 l2 上,當(dāng)電壓足夠高 時(shí),裂紋將發(fā)展,于是泄漏電流的增長比電壓的增長快得多。所以測量直 流電壓下的泄漏電流,對于發(fā)現(xiàn)絕緣內(nèi)部缺陷有其特殊的意義。
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